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　　Olympus測厚儀可以使用所有單晶和雙晶探頭進(jìn)行操作。Olympus測厚儀會自動識別標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭，還會自動導(dǎo)入適當(dāng)?shù)捻斚榷x的設(shè)置。預(yù)先定義的設(shè)置中包含隨儀器附送的不銹鋼階梯試塊的超聲聲速。在使用雙晶探頭時，需要進(jìn)行探頭零位補償。對于單晶或高穿透軟件選項，以及單晶探頭，需要手動調(diào)用適當(dāng)?shù)脑O(shè)置。測厚儀出廠時已根據(jù)用戶所購探頭配置了默認(rèn)設(shè)置，這些設(shè)置使用隨機(jī)附送的不銹鋼試塊的大約聲速。為便于用戶使用，Olympus測厚儀中的默認(rèn)狀態(tài)已被選好。
 

　　Olympus測厚儀校準(zhǔn)：
 

　　校準(zhǔn)是使用已知探失，在特定的溫度下，針對某種材料，以進(jìn)行測量為目的而對儀器進(jìn)行調(diào)整的過程。在檢測某種特殊材料之前，經(jīng)常需要校準(zhǔn)儀器。測量度與儀器進(jìn)行校準(zhǔn)時的度*相同。
 

　　需要進(jìn)行以下三種類型的校準(zhǔn):
 

　　探頭零位補償〔[零位補償]鍵)
 

　　只用于雙晶探頭，校準(zhǔn)聲束在每個雙晶探頭延遲塊中的傳播時間。這個補償值針對不同的探頭有所不同，且隨溫度而變化。啟動測厚儀、更換探頭或探頭溫度有顯著變化時，必須進(jìn)行探頭零位補償。
 

　　材料聲速校準(zhǔn)([校準(zhǔn)聲速]鍵)
 

　　校準(zhǔn)材料聲速需使用一個帶有己知厚度且材料與被測上件相同的厚試塊進(jìn)行，或者以手動方式輸入一個以前確定的材料聲速。測量每一種新材料時，都需進(jìn)行這項操作。
 

　　零位校準(zhǔn)([校準(zhǔn)零位]鍵)
 

　　進(jìn)行零位校準(zhǔn)需使用一個帶有己知厚度且材料與被測上件相同的薄試塊。與探頭零位補償和材料聲速校準(zhǔn)不同的是，零位校準(zhǔn)操作只有在需要高精度時才有必要進(jìn)行(度高于±0.10毫米)。只需在使用新的探頭和材料組合時進(jìn)行一次零位校準(zhǔn)。當(dāng)探頭溫度變化時，不需要重復(fù)零位校準(zhǔn)，但要進(jìn)行探頭零位補償。