小型QNix4200測厚儀技術參數(shù)的詳細資料：

小型QNix4200測厚儀技術參數(shù)

QNix4200技術參數(shù)：

磁性基體(Fe模式)     可以

非磁性基體(NFe模式)  不可以

測量范圍             Fe:0-3000um

顯示精度             0.1um

精度                 0-50um:≤±1um

                    50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)

                    1000-3000um≤±3%讀數(shù)

zui小接觸面           10×10mm/QNix4200

zui小曲率半徑         凸面：3mm；凹面：25mm

zui小基體厚度         Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

溫度補償范圍         0-60℃

顯示                 LCD液晶(帶背光)

探頭                 紅寶石固定式

電源                 2×1.5V干電池

尺寸                 100×60×27mm

重量                 110g

QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可測量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度。（Fe）

?非常：
在整個測量范圍內(nèi)測量精度高。
?操作簡單：
無校準只有一個按鈕。
單手操作
?創(chuàng)新技術：
經(jīng)過驗證的霍爾傳感器和渦流技術。集成測量探針，無電纜或插頭。
?廣泛使用：
用于鋼鐵和有色金屬測量的雙探針。
?保護測量：
拋光的紅寶石，以保護探頭和表面被測量。